Besuch aus Japan
Dr. Tan Wai Kian vom Zentrum für internationale Bildung, Toyohashi University of Technology (TUT), Japan, besuchte unser Institut im Rahmen unserer Forschungskooperation mit der TUT, im Projekt „Development of nano-scale artificial magnetic lattice (AML) and application for controlling light and electromagnetic wave“.Wir arbeiten mit TUT Forschern im Bereich der Elektrophoretischen Abscheidung (electrophoretic deposition (EPD)) von funktionellen Nanomaterialien zusammen, um ein neues, kostengünstiges und groß-dimensioniertes AML zu entwickeln. Auf dem Bild: Dr. Kian, Prof. Boccaccini und Dr. G. Kawamura vom Department of Electrical and Electronic Information Engineering, TUT, zurzeit akademischer Besucher in unserem Institut. (Zum Vergrößern, Bild anklicken)